Генерация тестовых данных для асинхронных систем
В данном разделе мы рассмотрим проблему генерации тестовых данных для асинхронных систем. Решение этой проблемы сильно осложняется большой временной сложностью алгоритмов оценки корректности поведения асинхронных систем. Область применимости этих алгоритмов ограничена асинхронными моделями поведения, состоящими из нескольких десятков взаимодействий.
Одного теста такого размера явно не достаточно для достижения приемлемого качества тестирования. Построение наборов независимых тестов небольшого размера приведет к потере одного из основных достоинств технологии UniTesK - автоматическому построению сложных последовательностей тестовых воздействий.
Компромиссное решение, позволяющее совместить генерацию тестовых последовательностей с ограничениями на размеры модели поведения, подвергающейся оценки корректности, было предложено в работе []. Идея этого подхода заключается в использовании автоматных тестовых сценариев для построения обхода графа, в котором каждой дуге приписан асинхронный тест небольшого размера. Для реализации такого подхода требуется, чтобы целевая система после получения любого набора асинхронных воздействий за конечное время переходила в состояние, в котором она не должна выдавать ни одной асинхронной реакции до получения следующего воздействия.
С учетом этого ограничения данный подход позволяет сохранить автоматическое построение сложных последовательностей тестовых воздействий, несмотря на ограниченную применимость алгоритма оценки корректности поведения.
В последующих разделах мы рассмотрим вопрос построения тестов для систем с асинхронным интерфейсом более формально.
