Спецификация и тестирование систем с асинхронным интерфейсом

       

Метрики покрытия модели требований


Метрикой покрытия модели требований A = ( V, X, Y, E ) называется конечное множество подмножеств переходов модели требований M

2E . Элементами покрытия называются элементы метрики M, являющиеся подмножествами E.

Будем говорить, что тест { ( vi, xi, yi, v'i ) } покрыл элемент покрытия Cj

M, если тест содержит хотя бы одно взаимодействие ( vi, xi, yi, v'i ) входящее во множество Cj. Покрытием метрики M тестом { ( vi, xi, yi, v'i ) } будем называть набор элементов метрики M, покрытых данным тестом.

Таким образом, метрика покрытия определяет конечный набор элементов, в терминах которых осуществляется оценка качества тестирования. В технологии UniTesK некоторые метрики генерируются автоматически на основе структуры постусловий интерфейсных функций. В дополнение к этим метрикам, разработчик тестов может определять свои собственные метрики покрытия. Тестовая система автоматически оценивает качество тестирования в терминах всех доступных метрик и по результатам теста генерирует отчеты о покрытии элементов каждой метрики.

Метрика покрытия M называется управляемой, если для любых двух взаимодействий I1 = ( v1, x1, y1, v'1 ) и I2 = ( v2, x2, y2, v'2 ) выполнено следующее утверждение: (v1 = v2)

(x1 = x2)
(
Ci
M (I1
Ci)
(I2
Ci) )

Для управляемых метрик характерно то, что принадлежность взаимодействия к тому или иному элементу покрытия зависит только от той части взаимодействия, которая управляется тестовой системой, то есть от пресостояния и стимула. Работая с управляемыми метриками, тестовая система может не только автоматически подсчитывать их покрытие, но и оптимизировать генерацию тестовых данных для достижения определенного покрытия по некоторой управляемой метрике.



Содержание раздела